Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Применение рассеяния ионов для анализа твердых тел

Main
Mathematics - Analysis
Применение рассеяния ионов для анализа...

Применение рассеяния ионов для анализа твердых тел

Машкова Е.С., Молчанов В.А.

0 / 0

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Категорії:

Mathematics - Analysis

Рік:

1995

Мова:

russian

Сторінки:

176

Файл:

DJVU, 3.82 MB

IPFS:

,

russian, 1995

Читати Онлайн

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась

Можливо вас зацікавить

Арифов У. — Угловые закономерности взаимодействия атомных частиц с твердым телом

Арифов У. — Сорбционные процессы при взаимодействии заряженных частиц с поверхностями твердых тел [Текст]

Каипов Д. — Ядерный гамма-резонанс и атомные столкновения

Мак-Даниель И. — Процессы столкновений в ионизированных газах.

Беспалов В.И. — Взаимодействие ионизирующих излучений с веществом

Вяткин А.Ф. — Взаимодействие лазерных, электронных и ионных пучков с поверхностью твердых тел: Часть 3. Взаимодействие ионных пучков с поверхностью твердых тел: Курс лекций

Николичев Д. Е., Боряков А. В., Суродин С. И., Крюков Р. Н. — Анализ твёрдотельных гетеронаносистем методом РФЭС: Учебно-методическое пособие

Бериш Р. (ред) — Распыление твердых тел ионной бомбардировкой.

Бериш Р. (ред) — Распыление твердых тел ионной бомбардировкой.

Шкарбан И.И. — Энергообмен между потоками ионов и поверхностями конструкционных материалов: Учебное пособие

Холден Алан — Что такое ФТТ

Беспалов В.И. — Взаимодействие ионизирующих излучений с веществом.

Гасанов И.С. — Плазменная и пучковая технология

Фридлендер Г. — Ядерная химия и радиохимия

Нефедов В. И., Черепин В. Т. — Физические методы исследования поверхности твердых тел

Месси Г., Бархоп Е. — Электронные и ионные столкновения

Плешивцев Н.В. — Катодное распыление

Батурицкий М.А. — Взаимодействие ионизирующего излучения с веществом

Кульментьев А.И., Кульментьева О.П. — Методы анализа поверхности твердых тел

Пранявичюс Л., Дудонис Ю. — Модификация свойств твёрдых тел ионными пучками

Горшков О.Н., Михайлов А.Н., Васильев В.К. — Применение методов резерфордовского обратного рассеяния ионов и ионно-индуцированного рентгеновского излучения для анализа элементного состава и структурного совершенства твердых тел

Бобыль А.В., Карманенко С.Ф. — Физико-химические основы технологии полупроводников

Плешивцев Н.В. — Физические проблемы катодного распыления

Углов В.В., Черенда Н.Н., Анищик В.М. — Методы анализа элементного состава поверхностных слоев

Курнаев В.А., Трифонов Н.Н. — Моделирование методом Монте-Карло

Бажин А.И. Плешивцев Н.В., — Физика воздействия ионных пучков на материалы

Нефедов В.И., Черепин В.Т. — Физические методы исследования поверхности твердых тел

Петров А.А. — Электронная и ионная спектроскопия материалов и структур микро - и оптоэлектроники

Лобко А.С. — Экспериментальные исследования параметрического рентгеновского излучения

коллектив авторов — Методы и приборы для анализа электронных компонентов в микро - и наномасштабе

К. А. Финников. — Физическая кинетика

Габович М.Д., Плешивцев Н.В., Семашко Н.Н. — Пучки ионов и атомов для управляемого термоядерного синтеза и технологических целей

Мотт Н., Месси Г. — Теория атомных столкновений

Зандерна А. (ред.) — Методы анализа поверхностей

Патракеев А.С. — Угловые распределения атомов при распылении одно и двухкомпонентных материалов(Автореферат)

Ключові фрази

рассеяния

поверхности

рассеянных

зондирующих

спектроскопии

зависимости

взаимодействия

энергией

качестве

используют

столкновения

интенсивности

рассеивательной

зависимость

поверхностей

различных

кристалла

отраженных

блокировки

скольжения

относительно

плоскости

потенциала

твердого

атомного

моделирования